|
Методы контроля отражателей зависят от способа их изготовления.
У зеркальных отражателей, изготовленных способом электрохимического полирования, измеряют коэффициент зеркального отражения и качества защитной анодной пленки. Коэффициент зеркального отражения измеряют прибором типа ФЗ-65 (рис. 9-11). Этот прибор предназначен для измерения коэффициентов зеркального отражения плоских и криволинейных «поверхностей, какими в большинстве случаев являются отражатели светильников.
Качество анодной пленки контролируют по ее утолщению и цвету. Хорошо сформированная пленка должна иметь гладкую поверхность со .стекловидным отблеском. Матовость и белесоватость пленки свидетельствуют о ее растравливании. Толщину анодной пленки измеряют двумя способами: способом вихревых токов и способом пробивного напряжения [58].
Во время анодирования осуществляют контроль утолщения анодной пленки. Для этого используют зависимость напряжения анодирования от толщины покрытия. Медленное нарастание напряжения свидетельствует О1 нормальном течении технологического процесса. Резкое падение напряжения свидетельствует о нарушении целостности покрытия, которое чаще всего происходит из-за растрескивания анодной пленки вследствие плохого перемешивания электролита.
Забракованные отражатели регенерируют, для чего удаляют анодную пленку и производят повторное полирование.
Для стравливания анодной пленки используют раствор, содержащий 35 мл Н3РО4 (у=1,7) и 20 г СгО3 на 1 дм3 раствора. Стравливание производят при температуре 90—95°С.
У отражателей, изготавливаемых способом алюминирования в вакууме, контролируют коэффициент зеркального отражения и качество защитной лаковой пленки.
Коэффициент зеркального отражения контролируют прибором типа ФЗ-65. Толщину защитной лаковой пленки определяют при помощи толщиномера типа ИТП-1, для чего измеряют толщину подложки и толщину защитного слоя совместно- с подложкой. Толщину защитного слоя определяют как разницу между результатами обоих измерений.
Качество защитной пленки контролируют при помощи микроскопа типа МИМ-6 (рис. 9-12). |
|
Добавить комментарий
|
|
|
